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    掃描式電子顯微鏡(SEM)

       

               update:2014/07/16

中文名稱 掃描式電子顯微鏡 英文名稱 Scanning Electron Microscope
儀器廠牌型號 HITACHI S-3000N 購置年限 2003年12月31日
放置位置 博愛校區奈米中心2樓215室  (TEL:55682)

功能

物件表面觀測

重要規格

1. 鎢絲型掃瞄式

2. 放大倍率:x 15 ~ x 20,000

3. 加速電壓:0.3 ~ 30 kV

4. 試片尺寸需小於30mm x 30mm

5. 觀察試片不得為粉末、磁性、揮發性之材料

聯絡人

1.儀器負責教授徐文祥 (TEL:03-5712121-55111)

2.儀器負責研究生黃家聖 (TEL:03-5712121-55149)